加工提速 10 倍
结合ICP刻蚀与CMP,实现原子级表面且全程无损,大幅缩短耗时。
Li, Qiubo · 王守志 · 刘磊 · 宋克鹏 · 俞娇仙 · Wang, Guodong · Liu, Jingliang · Cui, Peng · Siheng, Chen · Defu, Sun · Wang, Zhongxin · 徐现刚 · 张磊
Applied Surface Science 2025
ICP 刻蚀与 CMP 协同将总工艺时间从 15 h 降至 1.5 h。
FIB‑STEM 证实 ICP 各向同性刻蚀实现无损,CMP 亦未引入新损伤。
CMP 湿法氧化反应消除干法刻蚀的杂质与缺陷,获得原子级平面。