测量分辨率约2 nm
采用双光梳异步光学采样，一次获取4 ns时间延迟，免机械延迟线即可实现金属薄膜厚度的高精度快速测量。
Yuanhao, Zhu · Yan, Dongyu · Jinyang, Zou · Wu, Ziling · 庞冬青 · 刘博文 · 胡春光 · 宋有建 · Ai Chengjun
Laser and Optoelectronics Progress 2025