双能成像高灵敏
通过表面处理和电极设计,在单一薄晶体器件上实现了双能X射线探测,无需光子计数或多层探测器。
Zhao, Jingda · Liu, Shilin · Li, Yuwei · 王新 · 戴瑜兴 · 闫正兵 · Jia, Binghui · 黄家才 · 徐晓宝 · 魏雷
ACS Applied Materials & Interfaces 2026
无需光子计数或多层探测器,简化系统架构。
灵敏度达 4.5 × 10⁴ μC·Gy⁻¹·cm⁻²,检测限低至 13.8 nGy·s⁻¹。
通过 μL/μH 比值实现精确材料区分,传统X射线探测器无法做到。