钙钛矿薄晶体X射线探测器

双能成像高灵敏

通过表面处理和电极设计,在单一薄晶体器件上实现了双能X射线探测,无需光子计数或多层探测器。

Zhao, Jingda · Liu, Shilin · Li, Yuwei · 王新 · 戴瑜兴 · 闫正兵 · Jia, Binghui · 黄家才 · 徐晓宝 · 魏雷

ACS Applied Materials & Interfaces 2026

具体参数

灵敏度
4.5 × 10⁴ μC·Gy⁻¹·cm⁻²
检测限
13.8 nGy·s⁻¹

技术优势

单一器件即可双能成像

无需光子计数或多层探测器,简化系统架构。

高灵敏度低检测限

灵敏度达 4.5 × 10⁴ μC·Gy⁻¹·cm⁻²,检测限低至 13.8 nGy·s⁻¹。

材料区分能力

通过 μL/μH 比值实现精确材料区分,传统X射线探测器无法做到。

应用场景