热电子弛豫厚度调控
通过改变石墨烯薄膜厚度,调控热电子与光学声子、表面声子及声学声子的耦合竞争,为高性能单电子晶体管设计提供定量理解。
Du, Sichao · Xie, Hao · Yin, Juxin · Tao, Fang · Shuo, Zhang · Sun, Yunlei · 蔡春锋 · Bi, Gang · Zhong-Bao, Chen · Xiao, Duo · Chen, Wenchao · Xiaoguang, Yang · Dawei, Wang · Yin, Wenyan · Rongkun, Zheng
Journal of Physical Chemistry C 2023
通过改变石墨烯薄膜厚度,可以在表面声子、光学声子和声学声子三种冷却通道之间切换,从而调控热电子弛豫时间。
在3–20 nm厚度区间,光学声子积累导致热光学声子效应,形成热电子冷却瓶颈;这一机制此前未被定量阐明。
较厚薄膜中,内层界面表面态为热电子-声学声子直接耦合提供额外冷却通道,加速弛豫。