高倍率长循环
Eu³⁺掺杂同时降低带隙与Na⁺迁移势垒,并增强晶格内聚力,解决了NVP导电性差与结构退化的双重难题
Chuanya, Jiang · Zijian, You · Zhang, Xiang · 徐彦宾 · 崔玉明 · 杨正龙 · 袁超
ACS Applied Materials & Interfaces 2026
Eu³⁺掺杂降低了带隙和Na⁺迁移活化能,电荷转移更快,使10C下仍能保持97.63 mAh g⁻¹可逆容量。
增强的V-O和Eu-O键提高了晶格内聚力,使正极在5C下经2000次循环后容量保持93.60%,且反应高度可逆。
原位XRD证实循环中发生高度可逆的双相转变反应,避免不可逆结构损伤,支撑长循环寿命。