辐照后绝缘近无损
经高穿透高剂量X射线辐照后，该绝缘材料仍保持结构稳定与绝缘性能，电荷消散加快更利安全。
Zhang, Guobao · Wei, Yang · Weimin, Huang · Zhengyang, Wu · Lei, Zhang · 杨熙 · Tong, Hui · 张成
IEEE Transactions on Plasma Science 2025
无机材料的晶体结构和有机材料的化学结构经X射线辐照后基本不变，说明材料本身没有发生明显的断键或晶格破坏。
介电性能、沿面闪络电压、表面电位衰减和体积电阻率等多项绝缘指标虽呈劣化趋势，但劣化程度极低，材料依然胜任运行工况。
EP/Al2O3复合材料经辐照后表面电荷消散加快，有利于降低表面电荷积累诱发放电的风险，对绝缘安全有正面作用。