单突触2 fJ
在同一器件内用缺陷模式实现短时可塑性、用铁电-缺陷混合模式实现长时可塑性,无需额外单元即可完成时空信息处理。
Zhang, Zhaohao · Guohui, Zhan · Gan, Weizhuo · 成岩 · 张续猛 · Yue, Peng · 唐建石 · Fan, Zhang · Huo, Jiali · 许高博 · 张青竹 · Wu, Zhenhua · 刘艳 · 吕杭炳 · 刘琦 · 韩根全 · 殷华湘 · 罗军 · 王文武
Advanced Intelligent Systems 2023
通过缺陷模式实现短时可塑性,通过铁电-缺陷混合模式实现长时可塑性,无需额外器件,即可在单一晶体管上处理时空信息。
得益于先进FinFET高度可控的静电特性,每次脉冲仅消耗2 fJ能量,显著降低神经形态计算的功耗。
单器件即可区分16个时间输入,证明了其处理时序信息的能力,可简化神经形态硬件架构。
构建的全Fe–DE FinFET储备池计算系统在数字分类上达到97.53%准确率,且所有器件均与先进CMOS工艺兼容,利于大规模集成。