极片全检不漏检
用三维激光扫描加深度学习,全面检测电极边缘缺陷,比传统图像检测更准。
Tianxin, Chen · Chen, Fei · Zhao, Wenzheng · Kunjie, Lu · Yue, Niu · Jiawei, Zhang · Zhouyang, Xu · Liu, Yinhua · 来鑫 · 郑岳久 · 欧阳明高
Measurement: Journal of the International Measurement Confederation 2026
利用3D激光扫描获取整个电极表面点云,避免传统图像检测的遗漏。
深度模型对侧边厚边缺陷分类准确率达97%,优于主流图像检测方法。
模型在真实电极数据上表现出稳健的泛化能力,适应不同批次。
采用SHAP方法分析模型,保持高性能的同时提高可解释性。