辐照下热失效
该器件在重离子辐照下的失效机理被系统揭示，找到了泄漏电流骤增与热烧毁的直接证据，为抗辐照加固设计提供了依据。
Hu, Peipei · Xu, Lijun · 张胜霞 · 翟鹏飞 · 吕玲 · Yan, Xiaoyu · Li, Zongzhen · 曹艳荣 · 郑雪峰 · 曾健 · 何源 · 刘杰
Nuclear Science and Techniques/Hewuli 2025
高电压下泄漏电流急剧增大，伴随功率密度快速上升，导致器件热烧毁
辐照后无偏置器件的导通电阻增加、击穿电压下降
高能重离子诱导的潜径迹穿透异质结界面并延伸至GaN层
径迹内发现N₂气泡缺陷，其积聚更易引起漏电和失效