频调电光梳测距仪

5 nm 精度纳秒测距

通过平衡互相关检测与重复频率快速扫描,将纳米级精度、兆赫兹刷新率与理论上无限的非模糊范围集成于单一测距方案。

Wang, Zijian · Zhuoren, Wan · Jingwei, Luo · Yuan, Chen · Mei, Yang · Qi, Wen · Xiuxiu, Zhang · Wen, Zhaoyang · Shimei, Chen · 闫明 · Heping, Zeng

Laser and Photonics Reviews 2025

参数信息

绝对距离测量时间
500 ns
位移追踪刷新率
172 MHz
极限测距精度
5 nm

技术优势

测距只需500纳秒

通过快速扫描电光梳重复频率,目标距离被确定为梳齿重复周期的整数倍,无需长时间累加即可得到绝对距离。

刷新率高达172 MHz

每个脉冲即可解析一次位移,实现单脉冲分辨的实时追踪,适合对快速运动目标进行连续测量。

精度达5纳米

在0.3秒积分时间下,极限测距精度可达5纳米,纳米级精度与兆赫兹刷新率共存于同一平台。

无模糊范围无上限

该方法的非模糊范围理论上不受限,消除了传统测距中距离模糊带来的限制,可覆盖极远到极近的测量区间。

应用场景