双极性SnO薄膜晶体管
无滞回双极输运
通过界面工程协同钝化块体与界面缺陷,实现空穴和电子迁移率近乎对称的无滞回双极性操作,并在偏压应力下保持极小的阈值电压漂移。
Peng, Dai · Zening, Gao · Chaoran, Dong · Ning, Wang · Yiwen, Yao · Jialong, Song · Minghui, Liu · 王一鸣 · 张嘉炜 · 李玉香 · 辛倩 · 宋爱民
Applied Surface Science 2026
具体参数
- 滞回窗口
- {'zh': '45', 'en': '45'} mV
- 空穴迁移率
- {'zh': '1.9', 'en': '1.9'} cm2/V∙s
- 电子迁移率
- {'zh': '2.0', 'en': '2.0'} cm2/V∙s
- 亚阈值摆幅
- {'zh': '0.15', 'en': '0.15'} V/dec
- 开关比
- {'zh': '10^4', 'en': '10^4'}
- NBS阈值电压漂移
- {'zh': '-57', 'en': '-57'} mV
- PBS阈值电压漂移
- {'zh': '122', 'en': '122'} mV
- CMOS反相器电压增益
- {'zh': '184', 'en': '184'} V/V
技术优势
滞回几乎消失
陷阱态钝化后,正反扫曲线几乎重合,滞回窗口低至45 mV,逻辑电路无需额外补偿。
空穴电子迁移率相当
空穴迁移率1.9 cm²/V·s,电子2.0 cm²/V·s,双极性输运对称,适合构建互补逻辑。
长时间偏压不漂移
10,000 s偏压应力后阈值漂移仅为−57 mV (NBS) 和 +122 mV (PBS),电路工作点稳定。
应用场景
- 氧化物互补逻辑:对称双极性输运直接构建CMOS逻辑,无需异质集成n/p沟道。
- BEOL集成晶体管:低热预算工艺兼容后道互连层,实现逻辑与存储的3D集成。
- 后道工艺兼容器件:器件在BEOL热约束下仍保持无滞回、高稳定,可直接嵌入现有产线。
- CMOS反相器:用同一SnO TFT即可搭出高增益反相器,简化电路设计。