精度与速度双优
采用亚像素卷积层进行上采样，避免了插值重建带来的计算负担和信息损失，在保证重建精度的同时大幅缩短了重建时间。
邵桂芳 · Qiao, Sun · 高云龙 · 祝青园 · 高凤强 · Zhang, Junfa
Electronics (Switzerland) 2023
省去插值预处理步骤，减少计算量，并保留原始低频信息。
将底层特征信息传递到高层，避免梯度爆炸或消失现象。
使用亚像素卷积层实现上采样，大幅缩短重建时间。