仅偶整数量子化
在高达50 T的磁场下仅呈现偶整数量子霍尔态、无奇整数态;单胞厚度时因全局Rashba效应同时出现奇偶态,为调控自旋纹理提供了新平台。
Wang, Jingyue · Huang, Junwei · Kaplan, Daniel · Zhou, Xuehan · Tan, Congwei · 章兢 · Jin, Gangjian · Xuzhong, Cong · Zhu, Yongchao · Gao, Xiaoyin · Yan, Liang · 左华坤 · 朱增伟 · Zhu, Ruixue · Stern, Ady · Liu Y.L. · 高鹏 · Yan, Binghai · 袁洪涛 · Peng H.
Nature Nanotechnology 2024
在高达50 T的磁场下,较厚的Bi₂O₂Se薄膜只呈现偶整数量子霍尔态,没有奇整数态。这表明该体系可以作为一种仅支持偶整数量子化的干净平台,研究者无需额外筛选就能获得偶整数态。
把外延Bi₂O₂Se薄膜减薄到一个单胞时,就能同时观测到奇数和偶数整数量子霍尔态;而在较厚薄膜中只有偶整数态。因此,仅通过改变厚度就能在两种量子霍尔态配置之间切换,无需改变材料体系或测量条件。
通过基于第一性原理能带的Rashba双层模型,作者将较厚薄膜中仅出现偶整数态归因于隐藏Rashba效应:两个子层中相反的Rashba自旋极化相互抵消,导致自旋简并未被完全解除。这一机理为设计新的自旋纹理提供了理论依据。