反射式角位移测量

6 mm 光路薄体积

采用点光反射光路和曼彻斯特绝对编码,在极薄体积内实现高分辨率角位移测量。

于海 · 万秋华 · Zhicai, Zhao · Yongjie, Li

IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 2024

参数信息

轴向光路高度
6 mm
测量分辨率
25 bit
误差标准差
3.11 ″

技术优势

光路高度仅6 mm

采用点光反射成像光路替代平行光透射光路,从根源上压缩轴向尺寸,便于集成到狭小空间。

抗干扰编码

基于曼彻斯特编码的绝对编码方法提升了反射式成像测量的稳健性,避免增量式编码的累积误差。

高分辨率解算

配合专用解码细分算法,在86 mm光栅编码器上实现超过25 bit的分辨率。

应用场景