铱纳米线网络

Pu, Heting; Chen, Yi; Zhang, Ao; Wan, Chengzhang; Yu-Han, Tsai; Wang, Yibo; Liu, Yang; 80247865; Wright, Joshua T.; Deborah J., Myers; Segre, Carlo U.; Zheng, Haimei; Duan, Xiangfeng; Huang, Yu D.

铱纳米线网络

低载量高活性OER

原位相变成富含缺陷的氧化物，在PEM电解槽中展现出超越商业催化剂的性能与耐久性。

Pu, Heting · Chen, Yi · Zhang, Ao · Wan, Chengzhang · Yu-Han, Tsai · Wang, Yibo · 柳杨 · 80247865 · Wright, Joshua T. · Deborah J., Myers · Segre, Carlo U. · Zheng, Haimei · Duan, Xiangfeng · Huang, Yu D.

Advanced Materials 2026

具体参数

低载量下: {'zh': '1.8', 'en': ''} V
衰减率: {'zh': '0.042', 'en': ''} mV/hour

技术优势

2 A/cm² 下稳定运行 900 小时

表面高密度 µ1-O 氧基团降低 O-O 耦合能垒