50C下超长循环
硫氮共掺杂碳层诱导晶格缺陷,降低Na+扩散能垒并缩短迁移路径,使NVP正极在超高倍率下仍保持结构稳定与可逆容量。
Jia, Kang · 朱岭 · Fei-Yang, Teng · Si-Qi, Wang · Huang, Yonggang · 向延鸿 · Chen, Zhe · 吴贤文
Rare Metals 2023
50C下仍释放58.6 mAh·g⁻¹,证明共掺杂碳层构建的快速电子/离子通道大幅降低极化,使NVP在极端电流下仍可逆脱嵌钠。
在大电流下经历4000次充放电后仍保留41.4 mAh·g⁻¹,证明结构稳定性和界面稳定性强,适合长期服役。