压致金属化
该拓扑绝缘体在约7 GPa下发生压致金属化,电输运参数与理论计算一致,为存储与热电应用提供材料基础。
李玉强 · Yuyao, Liu · 73454722 · Chuan-Zhen, Zhao · 孙金露 · Li, Yuhong · Yang, Liu · 宁平凡 · 刘义 · 邢海英
Physica B: Condensed Matter 2025
约7 GPa闭合能带和态密度计算预示金属化,随后7.1 GPa电阻率突变实验直接证实,无需推测。
7 GPa下电学参数曲线与第一性原理计算结果一致,表明对As2Te3高压输运的理论描述可靠,可用于预测同类化合物。
约15 GPa处载流子参数出现不连续变化,归因于等结构相变,为高压下的微妙结构响应提供实验信号。