垂直生长钯纳米片

亚纳米电容栅介质

单晶金属纳米片表面原子级平整,可直接层压到MoS₂上形成高质量栅叠层,无需聚合物转移。

Lei, Zhang · Zhaochao, Liu · Ai, Wei · Chen, Jiabiao · Zunxian, Lv · 王冰 · Mingjian, Yang · 罗锋 · 吴金雄

Nature Electronics 2024

具体参数

电容等效厚度
{'zh': '0.9', 'en': '0.9'} nm
电容密度
{'zh': '3.9', 'en': '3.9'} μF cm−2
漏电流
{'zh': '10^-6', 'en': '10^-6'} A cm−2
工作电压
{'zh': '0.45', 'en': '0.45'} V
迟滞
{'zh': '1', 'en': '1'} mV

技术优势

原子级平整表面

钯纳米片的表面原子级平整,为原子层沉积提供了理想的成核基底,从而获得均匀绝缘的介电薄膜。

无需聚合物转移

纳米片可通过无聚合物的机械按压方式直接转移到目标衬底上,避免了聚合物残留对器件性能的影响。

栅介质极薄且绝缘

在钯纳米片上沉积2纳米厚的Al₂O₃或HfO₂,仍能保持绝缘性,漏电流低至10⁻⁶ A cm⁻²。

工作电压低

顶栅晶体管可在约0.45 V的低电压下工作,有助于降低功耗。

应用场景