垂直生长钯纳米片
亚纳米电容栅介质
单晶金属纳米片表面原子级平整,可直接层压到MoS₂上形成高质量栅叠层,无需聚合物转移。
Lei, Zhang · Zhaochao, Liu · Ai, Wei · Chen, Jiabiao · Zunxian, Lv · 王冰 · Mingjian, Yang · 罗锋 · 吴金雄
Nature Electronics 2024
具体参数
- 电容等效厚度
- {'zh': '0.9', 'en': '0.9'} nm
- 电容密度
- {'zh': '3.9', 'en': '3.9'} μF cm−2
- 漏电流
- {'zh': '10^-6', 'en': '10^-6'} A cm−2
- 工作电压
- {'zh': '0.45', 'en': '0.45'} V
- 迟滞
- {'zh': '1', 'en': '1'} mV
技术优势
原子级平整表面
钯纳米片的表面原子级平整,为原子层沉积提供了理想的成核基底,从而获得均匀绝缘的介电薄膜。
无需聚合物转移
纳米片可通过无聚合物的机械按压方式直接转移到目标衬底上,避免了聚合物残留对器件性能的影响。
栅介质极薄且绝缘
在钯纳米片上沉积2纳米厚的Al₂O₃或HfO₂,仍能保持绝缘性,漏电流低至10⁻⁶ A cm⁻²。
工作电压低
顶栅晶体管可在约0.45 V的低电压下工作,有助于降低功耗。
应用场景
- 二维晶体管:提供高质量的栅介质集成方案,避免转移损伤和聚合物残留。
- 下一代半导体:将高κ介质集成到二维半导体上,推动后摩尔时代器件微缩。
- 先进逻辑器件:亚纳米电容等效厚度降低栅极延迟,提高逻辑器件开关速度。
- 低功耗存储:低漏电流和低工作电压满足低功耗存储对可靠性和能效的要求。