抗氢辐射最优
RD/ND表面在所有取向中抗氢保留能力最优,氢保留程度与晶界密度直接相关。
陈泓谕 · Wang, Lin · Feng, Peng · Xu, Qiu · Xiong, Yaoxu · 赵仕俊 · Tokunaga, Kazutoshi · 吴正刚 · 马毅 · 陈鹏起 · Luo, Lai–Ma · 吴玉程
International Journal of Hydrogen Energy 2023
RD/ND表面抗氢辐射性能最优
晶界密度与氢保留量正相关
温度升高氢保留量显著降低
<111>和<112>晶向注入深度最深