复杂面形亚微米测量
用离散光场为每个像素显式建模光束，突破了传统单光线假设，让偏折测量对高曲率、低反射率面形依然物理合规。
Chen, Yunuo · 张祥朝 · Lang, Wei · Chen, Ting · Niu, Xingman · Jiang, Xiangqian
APL Photonics 2025
对复杂表面，测量误差从微米量级降低到数百纳米，使偏折测量进入亚微米精度区间。
用一个离散光场函数为每个像素分配一组光线构成的光束，直接物理合规地描述偏折成像过程。
屏幕、相机与被测表面点之间的一一对应关系首次被突破，提升了成像模型对真实光学行为的刻画能力。
通过相位渲染规避图像强度量化的困难，使得模型无需复杂光强标定即可保持数值可靠性与测量效率。