KDP晶体抛光液

去除率50倍于微乳液

利用逆生长机制实现KDP晶体可控平坦化,不同晶面去除率差异小于8%,表面粗糙度达亚纳米级。

Liu, Ziyuan · 高航 · Cheng, Zhipeng · 王宣平

Materials and Manufacturing Processes 2024

参数信息

最大材料去除率
90 μm/min
表面粗糙度
0.00975 μm

技术优势

去除率提升50倍

材料去除率高达90 μm/min,是微乳液抛光方法的50倍,大幅缩短加工时间。

不同晶面去除一致

同一逆生长抛光工艺下,不同晶面材料去除率和表面粗糙度差异在8%以内。

实现镜面级表面

最终获得表面粗糙度Ra为0.00975 μm的镜面KDP晶体表面。

应用场景