去除率50倍于微乳液
利用逆生长机制实现KDP晶体可控平坦化,不同晶面去除率差异小于8%,表面粗糙度达亚纳米级。
Liu, Ziyuan · 高航 · Cheng, Zhipeng · 王宣平
Materials and Manufacturing Processes 2024
材料去除率高达90 μm/min,是微乳液抛光方法的50倍,大幅缩短加工时间。
同一逆生长抛光工艺下,不同晶面材料去除率和表面粗糙度差异在8%以内。
最终获得表面粗糙度Ra为0.00975 μm的镜面KDP晶体表面。