漏检率大幅降低
结合分类网络与单类分类器,用分位数阈值在工业缺陷数据上实现高检测精度与快速测试。
Jianyu, Liu · 杨周旺 · Song, Yanzhi
Advanced Engineering Informatics 2023
采用分位数作为判别阈值,大幅减少异常样本的漏检。
只需正常样本训练,适合工业场景中缺陷样本稀缺的冷启动需求。
在公开数据集Rd-MVTec AD上保持高AUROC的同时测试速度快,满足在线更新要求。