太赫兹自旋流纳米探针

60 nm 空间分辨率

首次将飞秒太赫兹自旋流的探测分辨率推进至纳米尺度，可直接表征高密度自旋电子器件中的局域自旋态。

Cai, Jiahua · Dai, Mingcong · 陈赛 · Peng, Chen · Jiaqi, Wang · Xiong, Hongting · Zejun, Ren · Liu, Shaojie · Liu, Zhongkai · 万蔡华 · Ming, Bai · 吴晓君

Applied Physics Reviews 2023

参数信息

横向空间分辨率

60 nm

探测谐波阶次

5

技术优势

纳米级分辨

实现了约60 nm的横向空间分辨率，可精确定位太赫兹自旋流。

强信噪比

可探测至第5次谐波发射信号，表明信噪比高。

刻蚀与表征一体化

STEN可同时用于表征和刻蚀纳米尺度自旋电子异质结构。

应用场景

• 太赫兹器件表征：在纳米尺度表征和优化太赫兹器件中的自旋动力学。
• 自旋电子学：直接探测局域自旋流，助力高密度自旋电子器件研发。
• 纳米光子学：将纳米光子学与自旋电子学结合，实现微纳尺度自旋态表征。
• 纳米制造：在纳米制造中实现自旋电子异质结构的原位表征与刻蚀。