双目超透镜DIC系统

便携高精位移测量

用超薄平面超透镜替代传统双相机,在75倍更小基线下仍保持约1%的应变测量精度,适合在狭小空间内进行三维变形场测量。

Zhao, Zhou · Liu, Xiaoyuan · Yu, Ji · Zhang, Yukun · 陈勇 · Luo, Zhendong · Song, Yuzhou · Geng, Zihan · Tanaka, Takuo · 齐飞 · 施圣贤 · Chen, Mu Ku

Opto-Electronic Advances 2025

参数信息

面内平移标准差
<2 µm
面外平移标准差
32 µm
应变场相对误差
1 %

技术优势

基线缩短75倍

用厚度仅数百纳米的超透镜替代传统镜头,使双目基线从立体视觉常规的数百毫米级压缩到4 mm,系统体积大幅缩小。

1%应变精度

与常规双相机立体DIC对比,在基线缩短75倍的情况下,测量应变场的相对误差仍维持在约1%,精度没有因小型化而明显损失。

狭小空间可用

超透镜超薄、可定制的特性使系统能够部署到传统双相机难以进入的位置,直接获取三维位移和应变场。

应用场景