多芯片电流同步测量
集成于压装IGBT器件内部,以高精度同时测量十颗芯片的暂态电流,解决了多芯片电流不均衡监测的难题。
复试 · 李学宝 · Lin, Zhongkang · 赵志斌 · 崔翔 · Tang, Xinling · Jia, Wan
IEEE Transactions on Power Electronics 2023
通过优化线圈匝数排列和引线布置,相邻芯片电流干扰降低至0.6%,远高于单线圈测量精度。
十芯片暂态过程实验验证测量误差仅1.8%,证明该方法能准确捕捉各芯片电流动态。
通过减小线圈间电容耦合,相邻线圈串扰噪声降至1.7%,保证多通道同时测量的信号纯度。
为十个罗氏线圈设计屏蔽层和接地引线布局,消除了集电极电压的干扰,使传感器能在高压环境中稳定工作。