带缝分裂圆柱谐振腔

宽带高精度测量

通过开放式缝隙抑制杂模，使同一腔体可稳定利用高达十个TE0n1模式，实现对薄片材料从10 GHz到78 GHz的宽带介电常数测量。

Yu, Chengyong · Xuan, Ran · Zhang, Yunpeng · Gao, Chong · 高勇 · Long, Jiawei · Zhang, Zhuoyue · He, Xiao · 李恩

IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques 2023

参数信息

Two cavities

40 GHz

技术优势

杂模抑制效果好

开放式缝隙能抑制大部分 TM 模式，并降低非零方位角 TE 模的品质因数，从而显著减少对 TE0n1 测量的干扰。

适用样品厚度范围广

数值验证表明该方案在很宽的介质样品厚度和缝隙宽度范围内都准确有效。

应用场景

• 介电常数测量：直接测得薄片材料在微波至毫米波段的介电常数和损耗角正切，无需样品大体积。
• 毫米波基板测试：表征高频电路基板材料的介电性能，辅助毫米波器件设计。
• 材料表征仪器：可作为实验室现有 VNA 的附件，提供宽带介电常数测量能力。