这种套管通过揭示接地尖端电晕放电引起的电荷积累过程,为分析套管事故和提高运行可靠性提供了基础。
Bai, Zheng · 周远翔 · 张云霄 · 黄新 · Xie, Xiongjie · Taiwei, Liu
IEEE Transactions on Power Delivery 2025
接地尖端电晕起始时产生大量离子,电荷积累超出正常水平,形成“过充”,为解释套管异常绝缘劣化提供新机理。
针尖长度影响电晕持续时间,过长的针尖导致持续电晕放电,这为运维中接地结构尺寸选择提供参考。