高熵金属陶瓷接头

耐1000°C剪切

在C/C复合材料间原位合成单相高熵金属陶瓷,避免传统多层脆性反应层。

Laifu, Wu · Wang, Xincheng · Xueke, Feng · Chai, Ben · Mao, Yue · 傅莉

Ceramics International 2024

参数信息

室温剪切强度(TiZrHfTa/Ni接头)
37.49 ± 1.44 MPa
室温剪切强度(ZrHfNbTa/Ni接头)
38.95 ± 1.26 MPa
1000°C剪切强度(ZrHfNbTa/Ni接头)
28.54 ± 1.71 MPa

技术优势

接头在1000°C仍保持高强度

ZrHfNbTa/Ni接头在1000°C下剪切强度为28.54±1.71 MPa,归因于(Zr-Hf-Nb-Ta)C相比(Ti-Zr-Hf-Ta)C具有更好的高温稳定性。

形成单一高熵金属陶瓷而非多层脆性反应层

两种接头在1800°C/30 min下均由近等摩尔高熵碳化物硬质相和近纯Ni粘结相组成,避免了传统多层反应区的脆性。

激光织构互锁结构增强接头

C/C复合材料表面的激光织构图案在界面处形成了大量互锁结构,进一步提高了接头的剪切强度。

剪切失效发生在C/C复合材料内部而非接头

室温和1000°C剪切测试后,所有接头的断裂主要发生在靠近反应层的C/C复合材料内,表明接头强度高于母材。

应用场景