多应力老化寿命预测
提出考虑方波电压参数与环境条件影响的多应力老化寿命模型，揭示发夹绕组绝缘在低气压、高温、快速上升沿方波下的失效机理。
Taoran, Yang · Yi, Cai · Wang, Yalin · Gang, Zheng · Zhang, Yizhong · 尹毅
IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation 2025
建立了考虑方波电压参数和环境条件的寿命模型，可以根据实际工况预测绝缘寿命。
明确了老化过程中局部放电幅值先逐渐下降（发展期）后略有上升（临近击穿期），为绝缘状态评估提供依据。