迁移率6倍
表面粗糙度仅0.3 nm的高度有序P3HT纳米线,可大幅提升柔性有机场效应晶体管的迁移率与器件均匀性。
Lu, Liangkun · Meng, Si · Jin, Shaobo · Zhao, Zirui · 刘旭玲 · Dai, Liguo · Yueming, Zhou · Hongjie, Yang · 叶国永
Chemical Engineering Journal 2025
P3HT纳米线表面粗糙度仅0.3 nm,远低于传统薄膜,有利于载流子传输和降低界面散射。
基于P3HT纳米线的FOFET迁移率是传统薄膜器件的6倍,归因于高度有序的分子排列和低缺陷密度。
该技术可制备晶圆级大面积纳米线阵列,且方法具有通用性,适用于多种有机半导体材料。