EBL/EUV分辨率达18nm
一种可双调性显影的非化学放大抗蚀剂,通过调节肟磺酸盐比例实现高分辨率图案化。
Huiwen, An · 陈金平 · Yi, Zeng · 于天君 · 王双青 · 郭旭东 · Rui, Hu · Peng, Tian · Vockenhuber, Michaela · Kazazis, Dimitrios · Ekinci, Yasin · 杨国强 · 李嫕
ACS Applied Polymer Materials 2024
仅改变共聚物中肟磺酸酯单体的比例,即可在同一材料体系中实现正性或负性显影,无需更换抗蚀剂种类。
在极紫外光刻中负性显影实现18 nm半周期,同时线边缘粗糙度仅2.3 nm,适用于高密度图案化。
电子束光刻中负性显影可分辨20 nm半周期,正性显影可分辨40 nm半周期,覆盖多种图形需求。