上转换纳米探针

工业在线相监测

利用上转换发光强度比直接判别YAG晶体纯度,替代传统XRD离线检测,实现快速无损的相态评估。

Hu, Shuai · Song, Changqing · Yuan, Maohui · Xin, Guo · Huang, Hanchang · Liu, Zelin · Cui, Wenda · 王红岩 · 杨子宁 · Han, Kai

ACS Applied Nano Materials 2024

具体参数

强度比判据 (I556nm / I546nm)
{'zh': '>1.80', 'en': '>1.80'}

技术优势

直接读出发光颜色判断相态

Er³⁺ 在 556 nm 与 546 nm 的发光强度比随基质从非晶→六方 YAH→立方 YAG 依次增大,当比值超过 1.80 时即对应纯立方相,肉眼可辨的橙→绿色转变与相纯度同步。

省去 XRD 定相步骤

传统流程须在每个退火节点取样做 XRD 判断相组成;本方法直接由荧光光谱比率推算相纯度,无需制样、无需离线等待,特别适合产线连续监测。

兼容工业量产方法

验证体系采用火焰喷雾热解法(FSP)制备 YAG:Yb/Er 纳米粉体,该技术本身已是工业级量产手段;提出的光学探针可无缝集成于现有产线,不改变工艺即可实现实时相控。

应用场景