微电子连接器检测网络

精度速度双优

专为微电子连接器缺陷检测设计，兼顾高精度与实时性，适合产线部署。

Liu, Qunpo · Jiawen, Zhao · 王洪琦 · Hanajima, Naohiko · 卜旭辉

Engineering Applications of Artificial Intelligence 2026

参数信息

平均精度均值提升

5.6 %

参数量减少

24.1 %

检测速度

104 FPS

技术优势

精度明显更高

相比RT-DETR，检测平均精度均值提升5.6%，更有效地识别五种常见缺陷。

参数量大幅减少

所需参数量比RT-DETR少24.1%，更易于部署和训练。

小缺陷更敏感

引入边缘感知上采样模块提升了对微小缺陷的响应能力。

变形缺陷定位更准

通过多尺度动态偏置粒度增强编码器加强变形缺陷定位。

应用场景

• 微电子连接器质检：产线上剔除不良连接器，避免接触不良和短路。
• 工业视觉检测：轻量模型即可嵌入现有视觉系统，无需大量算力。
• 表面缺陷检测：边缘感知设计提升对微小表面缺陷的敏感度。