亚表面损伤深度减半
通过均匀化激光能量分布,显著抑制单晶硅加工中的亚表面损伤,为后续超精密抛光节省材料去除量。
Guohui, Li · Luo, Gangjie · Ou, Yang · 黄成 · Zhou, Jiafu · Guan, Chaoliang · Dai, Yifan · 彭小强 · Xiong, Yupeng
Journal of Materials Research and Technology 2026
均匀温度分布消除了低温区冷切割和高温区原子堆积引起的应力集中,从根源上减少损伤。
损伤深度降至194 nm,不足传统工艺的一半,直接缩短超精密抛光的材料去除环节。