晶界刻蚀CrCoNiFe电极

表面晶界刻蚀网络结构

通过晶界腐蚀在CrCoNiFe合金表面构建交错网络结构,大幅增加催化活性位点暴露,同时形成25 nm羟基氧化物层作为真实活性中心,实验证明显著提升OER和UOR性能。

刘前程 · 赵峰 · 杨旭林 · Zhu, Jie · 杨苏东 · 陈林 · 赵鹏 · 王清远 · Zhang, Qian

Journal of Materials Science and Technology 2024

参数信息

UOR过电位
250 mV
全解尿素电解池电压
1.485 V
长期稳定性(电压下降)
27.6 mV
表面羟基氧化物层厚度
25 nm

技术优势

活性位点暴露更多

晶界被严重腐蚀形成交错网络,促进活性位点暴露和气泡释放,从而提升电催化性能。

表面自生成活性层

表面25 nm羟基氧化物层作为真正的活性中心,同时改善润湿性,无需外加涂层。

产氢电压低

双电极电解槽在10 mA/cm²下仅需1.485 V,显著低于传统水电解,节省电力。

稳定性好

在10 mA/cm²下连续运行100小时,电压下降仅27.6 mV,表现出优异的长期稳定性。

应用场景