低损伤定量表征
采用LA-ICP-MS方法对Y掺杂BaF₂晶体中的钇和微量元素进行原位定量分析，实现微损伤、高灵敏度检测。
Wenxin, Cui · Cai, Zhaoqing · 李勤高 · Qu, Haiyun · Zheng, Jiaqian · 余灯广 · 陈俊锋 · 汪正
Talanta 2023
直接对固体晶体进行激光剥蚀进样，避免了湿化学前处理带来的样品损失和污染。
对Sr和Pb的检出限低至0.01 μg g⁻¹，可满足高纯晶体的杂质分析需求。
原位分析给出钇掺杂浓度沿晶体生长方向的空间变化，如从籽晶端到尾部逐渐增加。