双通道缺陷检测样机

分辨率超170 nm

明暗场双通道设计,兼顾图案化与非图案化表面缺陷检测,满足激光陀螺反射镜基片制造需求。

Jun, Wang · Li, Zhenyang · 宋茂新 · Xu, Zhilong · Huan, Luo · 凌明椿 · 76360845 · Liu, Wuhao · 刘振海 · Hong, Jing

Micromachines 2024

具体参数

分辨率
170 nm
最大静态变形
4.65 μm
谐振频率至少
约 230 Hz
运输条件下最大应力
9.86 MPa