空化激光辅助CMP抛光

4H-SiC原子级去除

利用水下纳秒激光辐照产生空化效应,辅助化学机械抛光,实现4H-SiC晶圆原子级材料去除,解决了其因高硬度和化学惰性导致的抛光效率低的问题。

Zirui, Wang · 朱玉广 · Yang, Peng · Tianyu, Zhang · 王永光 · Qingsheng, Liu · 贺海东 · 王传洋

Optics and Laser Technology 2025

技术优势

抛光效率提高

水下纳秒激光辐照预处理在碳化硅表面产生改性层,使后续CMP的材料去除率提高。

表面粗糙度低

该工艺能够实现原子级材料去除,获得极低的表面粗糙度。

应用场景