转移填充率提升67.2%
通过控制芯片释放角度,显著提高微组装过程中的正确转移填充率。
Zhang L.H. · 王伟 · Zou Y. · 刘强
Physics of Fluids 2025
在45 mm高度以30°角释放芯片,转移率达到87%,相比无控制条件提升67.2%,显著提高组装效率。
通过控制释放角度,可以改变芯片下落过程中的旋转方向和着陆角度,从而直接影响最终取向,提高正确填充率。
无需额外设备,仅通过调整释放角度这一简单参数即可大幅提升转移效率,便于集成到现有工艺流程。