zT达1.08
通过Ge掺杂优化载流子浓度、Cd合金化引入点缺陷散射与声子软化,同时提升功率因子并降低晶格热导率。
Shen, Dongyi · Kwok, Alexander Siu Tai · Wang, Wenxuan · 陈心足 · Chen, Yue
ACS Applied Materials & Interfaces 2025
0.6% Ge掺杂实现最佳载流子浓度