功率模块封装绝缘

高温下长寿命

提出考虑温度与局部放电老化因素的寿命估算模型，为功率模块绝缘状态评估提供依据。

Ding, Yi · Wang, Yalin · 陈猛 · Fan, Lu · 尹毅

IEEE Transactions on Power Electronics 2025

技术优势

寿命模型可预测

基于温度与局部放电累积损伤，提出首个寿命估算模型，可用于模块绝缘状态评估。

温度越高寿命越短

温度升高导致 PD 幅值与脉冲重复率上升，加速绝缘老化，寿命降低。

波形参数可调寿命

方波电压上升时间更长、频率更低时，绝缘寿命通常更长，为驱动设计提供参考。

应用场景

• 宽禁带功率模块：评估宽禁带模块封装绝缘在高温高dV/dt下的寿命，提前预警失效。
• 高功率密度电源：为高功率密度变换器中绝缘设计提供寿命预测依据，优化方波参数。
• 高温电力电子：用于高温电力电子器件封装绝缘的加速老化评估与状态监测。