跨尺度微纳坐标测量机

6.4 nm 定位精度

宏微双台协同与阿贝原则计量系统实现大行程高精度三维测量,专为跨尺度微纳制造检测设计。

Zhang, Zuyang · 黄强先 · Huijie, Liu · 李红莉 · 程荣俊 · 张连生 · 李瑞君

IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 2025

参数信息

微动台直线位移
20 μm
微动台直线分辨率
0.56 nm
微动台角位移
27 ″
微动台角分辨率
0.09 ″
三维定位精度
6.4 nm
测头重复性
20 nm
最大允许误差
250 + 3.6 × 10⁻⁶L nm

技术优势

计量不受运动误差影响

三轴激光干涉仪和角度测量系统独立于运动系统,工作台空间坐标和姿态实时测量,避免了传统结构中运动系统误差对测量结果的直接影响。

六自由度微动台纳米级驱动

压电陶瓷驱动的六自由度微动台可实现每轴超过20 μm的直线位移和超过27″的角位移,分辨率分别优于0.56 nm和0.09″,为工作台提供精密驱动和姿态调整。

宏微协同达到6.4 nm定位

通过宏微协同定位与二次触发策略,三维方向定位精度优于6.4 nm,测头重复性优于20 nm (k=1),为高精度测量提供核心保证。

应用场景