高温高湿薄膜电容器

湿度下寿命可算

提出基于水分扩散的薄膜电容器可靠性判据，可评估封装质量并缩短老化测试时间至少80%。

Li, Z. · 李华 · Qiu, Tian · 林福昌 · 王玉成

High Voltage 2023

具体参数

电容损失率增加比例

{'zh': '301', 'en': '301'} %

老化测试时间缩短比例

{'zh': '80', 'en': '80'} %

技术优势

老化测试时间缩短80%

提出的可靠性判据计算方法可以筛选封装质量，并至少缩短80%的老化测试时间。

电压影响量化

电压对电容器老化的影响最为显著，电压升高30%时电容损失率增加301%。

分段损失对应

电容损失的线性阶段与重量增加的Fickian水分扩散阶段相对应，揭示了水分扩散对电容损失的影响。

应用场景

• 电容器可靠性测试：用新判据缩短测试周期并更准预测寿命。
• 电力电子变换器：提前评估高温高湿下电容寿命，避免变换器失效。
• 电子器件寿命评估：提供计及水分扩散的分段寿命模型。