激光写入自旋缺陷

聚合物上直接写入

不依赖晶体生长，用激光在普通聚合物表面原位生成碳化硅自旋缺陷，适用于传感与防伪。

覃栎 · 郭浩 · Li, Xin · 温焕飞 · Li, Zhonghao · Ma, Zongmin Ming · 田禾 · 唐军 · 刘军

Science Advances 2025

参数信息

ODMR对比度

0.15 %

技术优势

无需晶体衬底

通过在聚合物上局部形成碳化硅相，直接产生自旋缺陷，避免了对特定晶体结构的依赖。

加工损伤极小

激光直写只对局部进行改性，并形成稳定的共价键，因此可在已成型器件上进行加工而不破坏其功能。

应用场景

• 片上磁传感：在微流控器件上直接写入自旋缺陷，实现片上磁场原位探测。
• 医疗贴片功能化：使心脏贴片具备传感功能，监测局部生理参数。
• 药物防伪标签：在药瓶上写入自旋缺陷作为不可克隆的防伪标识。