P+缓冲分割栅SiC MOSFET

短路耐受提升2.1倍

在JFET区引入P+缓冲,同时降低栅氧峰值电场并抑制短路电流,在几乎不影响导通电阻的情况下显著提升短路耐受和高频性能。

Yuzhi, Chen · Li, Chi · Yifan, Wu · 郑泽东

IEEE Electron Device Letters 2024

参数信息

短路耐受时间提升
2.1 倍
短路耐受时间提升
1.5 倍
高频优值提升
2.4 倍

技术优势

短路电流被抑制

P+缓冲促进JFET区在高压下耗尽,限制短路电流,从而提升短路耐受能力。

应用场景