半监督卷积自编码器

标签减半精度不减

仅用20%标注数据即可实现LDED过程局部质量的实时预测,大幅降低数据标注成本。

Fenglei, Zheng · 谢罗峰 · Bai, Qingsong · Zhu, Yangyang · 殷鸣 · Yuhang, Zhang · Kaiyu, Niu

Additive Manufacturing 2025

参数信息

预测准确率
83.8 %
标注数据比例
60 %

技术优势

标签需求减半

只用60%标注数据就能达到全监督模型使用全部标注时的最高准确率。

标签再减仍能预测

即使标注数据降至20%,预测准确率仍有83.8%,显著降低标注时间与成本。

无需增广技巧

该方法不同于传统依赖数据增广来强制一致性正则化的半监督学习,而是通过域级样本构建和残差连接等设计增强特征提取。

实时局部监测

基于同轴熔池图像,能实时预测LDED过程中的局部质量属性。

应用场景