光电Fenton磁流变抛光液

氧化物晶圆无损高效抛光

在磁流变抛光中同步引入光场与电场,稳定再生Fe²⁺并持续生成羟基自由基,从而在保持机械去除能力的同时抑制晶圆表面氧化损伤。

Chen, Zhijun · 阎秋生 · 潘继生 · Kaiyuan, Luo · Jingyuan, Zheng · Hanhao, Liu

Ceramics International 2024

参数信息

材料去除率
13.32 mg/h
表面粗糙度
4.35 nm
甲基橙降解率
96.8 %
Fe²⁺占比
93 %
Fe²⁺浓度增长率
220.32 %

技术优势

抛光更均匀

光电协同作用下,Fe²⁺稳定再生, ·OH持续生成,避免局部氧化不足或过度腐蚀,抛光质量更稳定。

表面更光滑

表面粗糙度降至4.35 nm,较传统抛光降低30.29%,有利于后续光电晶圆的光学与电学性能。

去除更快

材料去除率提高70.77%,达到13.32 mg/h,显著缩短抛光时间。

氧化能力稳

甲基橙降解率10分钟内稳定在96.8%,表明·OH持续高效生成,氧化能力不衰减。

应用场景