混合缺陷一次扫出
通过绕行策略突破完全遮挡，同时检测表面与背面缺陷，解决了传统集成方法对缺陷位置错开的依赖。
Xu, Hang · 刘金海 · 孙佳月 · Jiang, Lin · Qiangxin, Li
IEEE/ASME Transactions on Mechatronics 2025
绕行策略绕过完全遮挡的表面缺陷，精确检测隐藏的背面缺陷，突破了传统集成方法对缺陷位置错开的要求。
全匹配策略获得增强且纯净的EMAT信号，提高信号强度和质量，从而提升检测可靠性。
共磁铁结构同时实现电磁超声与漏磁两种检测方法，减少了体积和成本，便于集成到现有扫查装置。