模拟电子玉米穗

脱粒碰撞精准感知

集成UWB与IMU的玉米穗模拟装置，能原位测取脱粒过程中的碰撞力与空间位置，为揭示脱粒损伤机理和优化设备提供数据。

Shulun, Xing · Cui, Tao · Zhang, Dongxing · Yang, Li · 和贤桃 · Zhiguo, Wang · Dong, Jiaqi · Li, Chuan · Yeyuan, Jiang · Maosheng, Jing

Computers and Electronics in Agriculture 2024

参数信息

自由落体冲击力平均检测误差
0.69 N
自由落体冲击力检测精度
95 %
模拟脱粒冲击力平均检测误差
-0.27 N
模拟脱粒冲击力检测精度
97 %
定位误差概率（UKF紧组合）
100 %
定位误差（UKF紧组合）
0.15 m

技术优势

检测精度高

自由落体冲击力平均误差仅0.69 N，模拟脱粒中平均误差-0.27 N，满足损伤分析需求。

定位可靠

UKF紧组合算法在非视距下定位误差在±0.15 m内的概率约100%，能稳定追踪穗体轨迹。

应用场景