单晶GaN衬底树枝状GaN-ZnO纳米线

II型结叠加空位调控

通过Au辅助CVD在导电GaN单晶衬底上构筑树枝状(GaN)₁₋ₓ(ZnO)ₓ/GaN异质结阵列,并经Ar退火调制缺陷,同时利用II型异质结与空位复合体协同提升电荷分离。

Li, Jing · Chen, Lixin · Zhe, Hua · Liu, Baodan

Applied Surface Science 2024

具体参数

光电流密度(优化光阳极)
{'zh': '0.25', 'en': '0.25'} mA cm⁻²
光电流密度(CoPi修饰后)
{'zh': '0.45', 'en': '0.45'} mA cm⁻²

技术优势

电荷分离改善

树枝状(GaN)₁₋ₓ(ZnO)ₓ/GaN阵列形成II型异质结,促进光生电子和空穴的空间分离,从而抑制复合。

空位缺陷可控

Ar退火处理可降低表面氧空位密度,同时提高O_N-V_Ga复合空位密度,两者均有利于提升光电化学性能。

CoPi修饰增流

CoPi助催化剂修饰将光电流密度从0.25 mA cm⁻²提升至0.45 mA cm⁻²(1.23 V vs. RHE),提升幅度达80%。

应用场景